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用于背接触层的ZnTe∶Cu多晶薄膜
发表时间：2009-06-30 浏览量：2053 下载量：663
| 全部作者： | 宋慧瑾，郑家贵，冯良桓，夏庚培，王文武，贺剑雄，李愿杰，鄢强 |
| 作者单位： | 四川大学材料科学与工程学院；核工业西南物理研究院 |
| 摘 要： | 用共蒸发法制备了 ZnTe∶Cu多晶薄膜，采用X射线衍射（X-ray diffraction, XRD），原子力显微镜（atomic force microscope, AFM）及X射线光电子能谱（X-ray photoelectron spectroscope, XPS）等表征手段分析了薄膜的结构、形貌、组分及Cu在ZnTe中的存在状态，并比较了它们在退火前后的变化。结果表明：刚沉积的薄膜为高度（111）择优的立方相结构；退火后，膜变得均匀、致密，并出现六方相。XPS分析发现膜面呈现富Te现象，且富余的Te主要以氧化物和CuxTe相的形式存在。用ZnTe/ZnTe∶Cu复合薄膜作为太阳电池背接触层，可以提高电池性能和光电转换效率。 |
| 关 键 词： | 一次能源； ZnTe∶Cu多晶薄膜；复合薄膜结构；太阳电池 |
| Title： | ZnTe∶Cu polycrystalline thin films as back contact layers |
| Author： | SONG Huijin, ZHENG Jiagui, FENG Lianghuan, XIA Gengpei, WANG Wenwu,HE Jianxiong, LI Yuanjie, YAN Qiang |
| Organization： | College of the Materials Science and Engineering, Sichuan University；Southwestern Institute of Physics |
| Abstract： | ZnTe∶Cu polycrystalline thin films prepared by vacuum co-evaporation technique were characterized by X-ray Diffraction (XRD), Atomic Force Microscope (AFM) and X-ray Photoelectron Spectroscope (XPS). The paper studied the impact of copper-doped concentration and annealing temperatures upon structure and surface morphology of ZnTe∶Cu thin films and analyzed existing state of copper atoms. It is shown that as-deposited ZnTe films have cubic structure with highly preferential orientation of (111) while the annealed ZnTe films have hexagonal structure. The XPS analysis shows that, on the surface of annealed ZnTe∶Cu films, Te exists in forms of oxide and CuxTe. CdTe solar cell conversion efficiency and its characteristic have been improved when the ZnTe/ZnTe∶Cu back contact layers are introduced into CdTe solar cells. |
| Key words： | primary energy; ZnTe∶Cu polycrystalline film; composite film structure; solar cell |
| 发表期数： | 2009年6月第12期 |
| 引用格式： | 宋慧瑾，郑家贵，冯良桓，等. 用于背接触层的ZnTe∶Cu多晶薄膜[J]. 中国科技论文在线精品论文，2009，2（12）：1242-1246. |
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